Guevara, Esteban, José Tinajero, Mauro Guevara, y Mildred Cajas Buenaño. 2020. «Análisis Comparativo Del Nivel De Defectuosidad En Los Dispositivos De Potencia SiC MOSFETs: Array». Revista Perspectivas 2 (1):33-37. https://doi.org/10.47187/perspectivas.vol2iss1.pp33-37.2020.